超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊介紹-石家莊飛泰檢測(cè)儀器有限公司

標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)均勻，內(nèi)部雜質(zhì)少，無(wú)影響使用的缺陷。加工容易，不易變形和繡蝕，具有良好的聲學(xué)性能。試塊的平行度、垂直度、粗糙度和尺寸精度都應(yīng)經(jīng)過(guò)嚴(yán)格檢驗(yàn)并符合一定的要求。

 

標(biāo)準(zhǔn)試塊要用平爐鎮(zhèn)靜鋼或電爐軟鋼制作，如20號(hào)碳鋼。

 

試塊上的平底孔應(yīng)檢驗(yàn)其直徑、孔底表面粗糙度、平面度等。常用下述檢查方法：先用無(wú)腐蝕性溶劑清洗孔并干燥，然后用注射器將硅橡膠注入孔內(nèi)，抽出注射器，插入大頭針，待橡膠凝固后借助大頭針將橡膠模型取出，在光學(xué)投影儀上檢查孔底粗糙度和平整程度。

 

常用標(biāo)準(zhǔn)試塊

IIW試塊：IIW是國(guó)際焊接學(xué)會(huì)的英文縮寫。改試塊是荷蘭代表首先提出來(lái)的，故稱荷蘭試塊。改試塊形狀似船型，因此又叫船型試塊。IIW試塊材質(zhì)相當(dāng)于我國(guó)20號(hào)鋼，正火處理，晶粒度7-8級(jí)。

 

IIW試塊的主要用途
1.調(diào)整縱波檢測(cè)范圍和掃描速度（時(shí)基線比例）：利用試塊上25mm和100mm尺寸。
2.效驗(yàn)儀器的水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍：利用試塊上25mm和100mm尺寸。
3.測(cè)定直探頭和儀器組合的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力：利用試塊上85、91和100尺寸。
4.測(cè)定直探頭和儀器組合后的最大穿透能力：利用Φ50mm有機(jī)玻璃塊底面的多次反射波。
5.測(cè)定直探頭與儀器組合的盲區(qū)：利用試塊上Φ50mm有機(jī)玻璃圓弧面至側(cè)面間距5mm和10mm。
6.測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)：用R100圓弧面。
7.測(cè)定斜探頭的折射角：折射角在35°～76°范圍內(nèi)用Φ50mm孔測(cè)，折射角在74°～80°范圍內(nèi)用Φ1.5mm圓孔測(cè)。
8.測(cè)定斜探頭和儀器組合的靈敏度余量：利用試塊R100或Φ1.5mm。
9.調(diào)整橫波檢測(cè)范圍和掃描速度：由于縱波聲程91mm相當(dāng)于橫波聲程50mm，因此可以利用試塊上91mm來(lái)調(diào)整橫波的檢測(cè)范圍和掃描速度。
10.測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離：利用試塊的直角棱邊測(cè)。

IIW2試塊：IIW2試塊也是荷蘭代表提出來(lái)的國(guó)際焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)試塊，由于外形類似牛角，故又稱牛角試塊。與IIW試塊相比，IIW2試塊質(zhì)量輕、尺寸小、形狀簡(jiǎn)單、容易加工和便于攜帶，但功能不及IIW試塊。

 

IIW2試塊的主要用途
1.測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)：利用R25與R50圓弧反射面測(cè)。
2.測(cè)定斜探頭的折射角：利用Φ5mm恒通孔測(cè)。
3.測(cè)定儀器水平、垂直線和動(dòng)態(tài)范圍：利用厚度12.5測(cè)。
4.調(diào)整檢測(cè)范圍和掃描速度：縱波直探頭利用12.5底面的多次反射波調(diào)整，橫波斜探頭利用R25和R50調(diào)整。
5.測(cè)定儀器和探頭的組合靈敏度：利用Φ5mm和R50圓弧面測(cè)。